可程式高低溫測(cè)試箱

是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確 定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高低溫、溫度環(huán)境變化 后的參數(shù)及性能.適用于學(xué)校，工廠，，研位，等單位。

產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)：

GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)

產(chǎn)品圖片如下：

高低溫測(cè)試箱，產(chǎn)品規(guī)格如下；